几天前我们曾经报道过，PCPer网站刊出了一篇性能测试文章，宣称Intel的X25-M固态硬盘在长期高负载使用后会出现所谓的“碎片”问题，导致性能大幅度下滑。
几天前我们曾经报道过，PCPer网站刊出了一篇性能测试文章，宣称Intel的X25-M固态硬盘在长期高负载使用后会出现所谓的“碎片”问题，导致性能大幅度下滑。由于Intel X25-M是目前市场上实测性能数一数二的民用固态硬盘，这一问题的曝出引起了全球媒体和用户的广泛关注。日前Intel已经对此事作出了官方回应。
Intel在一份声明中表示：“我们的实验室目前无法重现该报道中所称的这些结果。我们估计，他们在测试中人为制造的工作负载并不能反映普通用户实际使用状况。同时，他们为评估性能指标所使用的测试工具也不能反映PC用户的使用体验。”
“一般来说，当PC硬盘（SSD或HDD）容量消耗殆尽的时候，会出现一定的性能下降问题，但PC Perspective所报道的这种性能下滑比我们的预计要高得多，因此我们正在调查他们究竟使用了怎样的测试办法。”
很明显，Intel的说法是，普通用户的使用根本不会造成这样的结果，而PCPer在测试中肯定使用了超高负载的压力测试办法。但就在PC Per的原文中，他们表示自己的测试是在模拟实地使用状况的条件下进行的，包括“XP/Vista安装，反复安装软件、游戏，批量拷贝文件等”。并且，他们测试的多块Intel固态硬盘都出现了同样的状况。两者说法南辕北辙，究竟谁在说谎，或是双方有何误解，我们可以静待事态发展。
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