随机读写:IOMeter 4KB随机读写性能测试
这里笔者使用IOMeter软件，依然在8GB分区下测试，并使用Pseudo Radom数据模型下分别进行QD3和QD32两种队列深度的IOPS性能测试，可以认为QD3是固态硬盘在低队列深度下表现的一个最佳参考点，而QD32则能体现出固态硬盘在高负载环境下所激活出来的最大性能。设置细节如下：
# of Outstanding I/O（同时发送的IO请求即队列深度）：3/32
Write IO Data Pattern（测试生成的数据模型）：Pseudo Random
Transfer Request Size（测试请求的文件大小）：4KB
Percent Read/Write Distribution（测试请求的读/写比例）：100%读/100%写
Percent Random/Sequential Distribution（测试请求的随机/连续比例）：100%随机
Align I/O on（对齐I/O到指定大小）：设置为4KB对齐
Ramp up Time（自举时间）：设置为30秒钟
Run Time（测试时间）：设置为2分钟
QD1下的4KB随机读成绩
QD3下的4KB随机读成绩
QD32下的4KB随机读成绩
QD1下的4KB随机写成绩
QD3下的4KB随机写成绩
QD32下的4KB随机写成绩
一般我们的桌面应用环境下队列深度不会超过5，因此只关注QD1、QD3下的成绩更有意义。但是为了探究固态硬盘对NCQ的优化能力，考察QD32下的随机读写性能也是很有必要的。在更新0009固件之后，Crucial英睿达m4的随机读取能力也是大幅度提升，这在000F固件中也保留了下来，相较老版固件可谓是稳定性和性能的双重提高。经测试，QD1下的4KB随机读接近8K IOPS，而QD32下的4KB随机读接近80K IOPS。
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