双层高速化 TDK DVD-R DL 8X盘片测试

互联网 | 编辑: 赵士隽 2006-11-15 00:00:00 一键看全文

大家好,在新的一周EW工作室要给大家送上一款刻录盘的评测。如今的刻录机市场,DVD盘片相信已经获得了大部分用户的认可。而作为更高容量的DL盘片,由于价格的持续走低,被越来越多的人接受。那么作为老牌的光磁品牌,TDK始终提供了更为专业的存储产品。作为国内评测的第一款

TDK DVD-R DL 8X盘片测试

测试部分,EW工作室选择了华硕提供的P5WD2-E P主板,搭配了强劲的至尊版的Intel处理器,组成了一个相当高段的平台。刻录机部分,我们使用了Sony提供的DW-G120A刻录机。这里我们要感谢华硕、金士顿、力富提供的产品,以及他们对于工作室的大力的支持。

那么让我们先从DL光盘的刻录部分开始,我们看到由于刻录方式采用了Z-CLV模式进行,因此刻录曲线不像CAV模式那么恒定的上升,Z-CLV呈现出阶段式的跳跃上升。刻录的起始速度达到了3.92X,并且结束速度达到了8.03X,整个过程平均速度达到了6.88X,消耗了17分56秒完成了刻录的整个过程。

对于读盘的测试会比较的复杂,读盘相对写盘的Z-CLV模式,采用了另外一种CAV模式进行。其起始速度达到了3.39X,稍稍落后于刻录速度。结束速度达到了8.10X,平均速度则为6.07X,读盘消耗了17分50秒完成,性能表现基本和写盘性能保持一致。其中随即寻道时间为122ms,端口突发率则达到了41.127MB/s,性能相当强悍。识别时间方面,稍稍偏慢,消耗了23.17s完成识别。

最后要进行测试的是针对盘片的质量测试,测试方式使用了最高模式,用以模拟普通使用环境。我们看到PI errors的发生率在这款盘片上的发生率较高,两层记录层总共发生了77万次之多。PI failures的发生率倒是符合一般情况,总体来说盘片质量符合一般使用需求。但PI errors的问题,我本想利用更多的刻录机进行测试,以排除兼容性方面的可能,EW也会在近期进行兼容性测试,大家请继续关注。

说到底,这款盘片到底好不好,我想说对于日系的刻录机以及日系的刻录盘来说,发生兼容性错误的机率相当的低,如果你使用的是日系刻录机,那我想说使用这款盘片不会发生任何问题。那么绝对这款产品的主要因素还是集中在了产品的最终价格上,毕竟花太多钱在光存储的一般用户的数量非常有限,如果这款日本产品价格足够低的话,我想能够吸引很多普通消费者。但根据TDK一贯的专业素质而言,针对高端设计,同时带来的价格提升,会更加吸引高端用户的注意力。

 

 

 

 

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