Intel固态硬盘新版固件 写入性能测试

互联网 | 编辑: 周颉 2009-04-20 16:30:00转载 一键看全文

一周前,Intel针对其X18-M和X25-M系列固态硬盘发布了新版固件,意在解决长期使用导致性能下滑的问题,首先发现并曝光这一缺陷的PCPer网站也迅即进行了验证测试,通过ATTO和HDTach的数据证实新固件确实有效。

Intel固态硬盘测试平台介绍

一周前,Intel针对其X18-M和X25-M系列固态硬盘发布了新版固件,意在解决长期使用导致性能下滑的问题,首先发现并曝光这一缺陷的PCPer网站也迅即进行了验证测试,通过ATTO和HDTach的数据证实新固件确实有效。

日本网站PCWatch今天又搬出了另外两款磁盘测试工具CrystalDiskMark和HD Tune Pro,对新旧固件进行了更直接的对比,结果显示X25-M在固件升级后读取性能其实没什么变化,基本可以忽略,但写入性能有了非常明显的改善,各种尺寸数据包下的写入速度、平均访问时间和每秒操作数(IOPS)都能回归正常水平,可以说是焕发了第二春,只不过CPU占用率略有提高。

测试平台:

处理器:Core 2 Quad Q8200
主板:技嘉GA-EP45-UD3R
硬盘:Intel X25-M 80GB SSD
内存:DDR2-800 2GB×2
显卡:Radeon HD 2400 PRO
操作系统:Windows Vista Ultimate SP1

首先看CrystalDiskMark 2.2.0:

100MB数据包:升级前

100MB数据包:升级后

1000MB数据包:升级前

1000MB数据包:升级后

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