上一次笔者为大家带来了英特尔320系列固态硬盘的评测，笔者曾在其中提到，文章中的大部分的测试项目都是在空盘的环境下完成的，可以说是出厂状态，最贴近理论成绩的测试。但是用户在实际使用中可能根本无法获得这样的数字，随着文件越来越多，用户发现速度越来越慢，认为这就
弄脏SSD后IOPS性能损失近四倍
对比一下写满前后的随机存取性能，首先是HD Tune的测试：
空盘下HD Tune测试的4KB IOPS性能接近20K，平均速度76MB/s
空盘状态下，4KB随机读取性能达到19589 IOPS，平均速度高达76.521MB/s。
同样是空盘但是CDM检测出的性能只有20多MB/s
但实际上如果你看看CrystalDiskMark测试出来的成绩，基本上没有哪款固态硬盘在QD=1的情况下的4KB读取测试能够达到70MB/s。原因何在？很简单，CrystalDiskMark软件是先要在NAND中生成测试数据样本的，这样测试出来的成绩更加接近真实性能。
写入数据之后HD Tune测试的IOPS性能也降到了22MB/s
写满之后再次运行HD Tune的IOPS测试，此时4KB读取性能大幅度下降，只有5654 IOPS，平均速度也降低为22.089MB/s，和CrystalDiskMark的数据相仿，而这才是真正性能！
同样IOMeter的测试结果也受到影响
其实随机写的性能比随机读的性能受到的影响要小很多。使用IOMeter测试32位深度4KB随机写的性能，此时在30MB/s左右。
好了，为了恢复原有性能，固态硬盘现在都支持TRIM，那么在执行TRIM机制后，性能是否能恢复到原来的情况呢？
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