美国纽约州Rensselaer工学院科学家的最新试验显示,在45nm及以下制程中,碳纳米管材料的性能已经超过目前普遍使用的铜互连工艺。
他们通过计算机模拟完成了这次试验,这也是全球第一次包含详细量子效应的芯片模拟试验,使用该校计算中心的100TFlops IBM超级计算机完成。试验最终结果显示,由于发热量过大,在45nm或更小的尺寸下,铜互连工艺无法实现理想的效果。而如果使用碳纳米管互联则可解决发热问题。
Saroj Nayak教授表示:“我们相信,碳纳米管在45nm制程下的表现会比铜质连线更为出色。将来我们会对两种构造的性能进行精确的比较。”研究者建议,在45nm及更精密的制程下,采用碳纳米管来作为芯片上互连导线的材料,可以降低阻抗,从而降低功率。
研究者表示,之前很少有芯片厂商原因使用碳纳米管的原因是,他们没有精确的测试数据以显示碳纳米管的优势所在,此次的试验能够给予他们信心。但目前的问题是,还没有一种方法可以大量制造碳纳米管。实验室中制造碳纳米管的方式,根本无法适用于芯片量产
网友评论