GC态测试：垃圾回收和TRIM效能测试
关于GC态测试的目的和方法前面已经说明，我们现在空盘状态下运行一次HDTune软件，观察此时的写入情况。这项测试以接近企业级固态硬盘测试标准进行，只具有参考意义。
空盘状态下的写入速度为315.5MB/s
笔者在没有分区的浦科特M3P硬盘上开始运行Iometer软件，使用Pseudo Random数据模型，QD32队列深度跑4KB随机写入测试，2段测试共20分钟。
运行开始，写入速度在284.5MB/s左右，IOPS则达到69K
30分钟运行完成之后性能只剩61.92MB/s，IOPS也仅为15K，延迟也大大增加
在20分钟的随机写测试完成后运行HDTune软件成绩为67.3MB/s（21.3%），由于笔者操作的失误在IOMeter运行完之后闲置了1分钟才开始进行这项测试，但可以看出垃圾回收已经开始，M3P表现得非常积极
闲置5分钟后进行测试恢复到109.3MB/s（34.7%）
再闲置15分钟后恢复到157.9MB/s（50.1%）
全盘格式化之后（Trim）立即运行测试达到313.4MB/s（99.3%）
应该说浦科特M3P固态硬盘对垃圾回收的速度并未做太多追求，反应快同时又比较收敛。首先，Marvell 88SS9174主控采用闲置垃圾回收操作，由于不像实时垃圾回收操作那样在数据输入/输出的同时做垃圾回收操作，因此节省了不少主控资源，并降低了“响应时间”。然而闲置垃圾回收操作可能会将当前还不必要被回收的无效块回收，可能会增加额外的写入放大，从而对NAND闪存造成额外的损耗。因此这里则取决于固件的算法以及能否在性能和寿命之间做好权衡。
由于这项测试在全盘范围内做了30分钟的4KB随机写入操作，并在随后闲置的20分钟的时间里恢复了50%的性能，的确在寿命方面做出了权衡。不过以其350MB/s的写入速度来看，这样的做法也值得肯定！
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