在GC态测试垃圾回收和TRIM性能
关于GC态测试的目的和方法前面已经说明，我们现在空盘状态下运行一次HDTune软件，观察此时的写入情况。
空盘状态下写入速度为345.2MB/s
笔者在没有分区的浦科特M3硬盘上开始运行Iometer软件，使用Pseudo Random数据模型，QD32队列深度跑4KB随机写入测试，9段测试共90分钟。
运行开始，写入速度在122.04MB/s左右，IOPS也接近30K
90分钟运行完成之后性能只剩46.8MB/s，IOPS也仅为11.4K，延迟也大大增加
在90分钟的随机写测试完成后立即运行HDTune软件成绩为123.3MB/s（35.7%）
闲置5分钟后进行测试恢复到333.6MB/s（96.6%）
再闲置15分钟后恢复到339.9MB/s（98.5%）
格式化之后达到342.8MB/s（99.3%）
可以发现512GB版本的浦科特M3的垃圾回收速度非常快，也许是90分钟的4KB随机写入测试的测试强度对它来说还是有点低了。虽然更快的垃圾回收会增加写入放大，但是若固态硬盘的容量足够大，用于磨损平衡机制的发挥余地也就更大，在一定程度上可以消除垃圾回收造成的额外的写入放大。
我们注意到全盘测试完成之后写入性能大跌，随后慢慢地从初始地址逐渐恢复，显然是采用了闲置垃圾回收策略。因此在诸如桌面级应用环境中，使用强度通吃不会很大，又会有较多的空闲时间，因此性能可以长时间维持在一个较高的水准。
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