基准测试：4KB随机读写性能测试
依然在8GB分区下测试，分别进行QD1、2、3、4、8、16以及32七个队列深度下的IOPS性能测试，这里我们以条形图方式给出QD1、QD3以及QD32下的表现，可以认为QD3是固态硬盘在低队列深度下表现的一个最佳参考点，而QD32则能体现出固态硬盘在高负载环境下所激活出来的最大性能。设置细节如下：
# of Outstanding I/O（同时发送的IO请求即队列深度）：1/2/3/4/8/16/32
Write IO Data Pattern（测试生成的数据模型）：Pseudo Random / Repeating Bytes
Transfer Request Size（测试请求的文件大小）：4KB
Percent Read/Write Distribution（测试请求的读/写比例）：100%读/100%写
Percent Random/Sequential Distribution（测试请求的随机/连续比例）：100%随机
Align I/O on（对齐I/O到指定大小）：设置为4KB对齐
Ramp up Time（自举时间）：设置为30秒钟
Run Time（测试时间）：设置为2分钟
随机读取性能对SSD来说是至关重要的因素，对于提升系统使用体验起着极为关键的作用。希捷官方标注的4KB随机读写性能分别达到80K和70K IOPS，相比三星、浦科特和OCZ标称达90K甚至100K并不算高。所以我们也就看到了在这项测试中希捷600系列SSD无论是随机读还是随机写都居于几款测试产品中的中游水平。
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